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Dossier

一种在量子点薄膜上制备氮化硅保护层的方法

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§ Ⅰ

Dossier Overview

Inventor

胡坤; 陈勇; 唐许

IPC Classification

G02B 6/13 (2006.01)C23C 16/34 (2006.01)C23C 16/02 (2006.01)C23C 16/505 (2006.01)C23C 16/52 (2006.01)G02B 6/132 (2006.01)G02B 6/12 (2006.01)

本发明公开了一种在量子点薄膜上制备氮化硅保护层的方法,包括以下步骤:将含有量子点层的器件固定在ICP‑CVD设备的反应腔室中,采用氨气作为等离子气体,对量子点层的表面进行真空等离子体预处理,预处理完后,通入SiH和N气体进行等离子气相沉积氮化硅保护层。本发明的方法先通过氨气对量子点层表面进行预处理,在不影响量子点层性能的前提下,可以降低量子点层与氮化硅层之间的接触势能,因而可以减少气相沉积过程中量子点层上的应力,而且可以提升量子点层和氮化硅层之间的结合强度,进而可以有效提升器件的综合性能。

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