电路测试方法及电路测试系统

一种电路测试方法，包含：取得集成电路的测试数据，其中测试数据用以记录多个逻辑电路及多个记忆电路进行扫描测试时的至少一个测试特征；分析测试数据，以将所述多个记忆电路的每一者分类至多个测试群中的其中一者，其中所述多个记忆电路的多个第一记忆电路被分类至所述多个测试群中的第一测试群；以及根据所述多个记忆电路的分类结果及测试数据，产生测试信号及多个控制信号。测试信号用以对集成电路进行扫描测试。所述多个控制信号用以控制所述多个第一记忆电路，以在进行扫描测试时，所述多个第一记忆电路中同时被致能的数量是被限制低于第一致能上限。