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Dossier

一种调控Cu-Ni-Si合金析出相分布的方法

InventionUnknown
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§ Ⅰ

Dossier Overview

Inventor

柳亚辉; 宋克兴; 张国赏; 赵磊; 周延军; 鲁长建; 申振芳; 毛庆忠; 赵永好; 张梦娜; 冯江; 朱倩倩; 马林杰; 李成勇

Filing Date

Jul 29, 2026

Publication Date

Oct 27, 2026

IPC Classification

C22F 1/08 (2006.01)

本发明公开了一种调控Cu‑Ni‑Si合金析出相分布的方法,属于铜合金材料制备加工技术领域。该方法以固溶处理后的Cu‑Ni‑Si合金为原料,先在液氮温区进行深冷预变形,总变形量为65%~85%,分5~8个道次完成,每道次轧制后浸入液氮中保温10~30分钟,引入均匀分布的高密度晶体缺陷,包括平面滑移位错阵列、层错和纳米孪晶;随后在400~450℃下时效处理2~4小时,使δ‑NiSi析出相以所述晶体缺陷为异质形核点形核并长大。本发明利用深冷环境抑制动态回复,引入高密度、均匀分布的晶体缺陷作为形核位点,使析出相数密度大幅提升并均匀分布,所得合金抗拉强度达716.42MPa,延伸率12.71%,导电率48.70%IACS,实现了强度、塑性和导电率的同步提升。

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